DIN EN 60749-2002 半导体器件.机械和气候试验方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-17 19:30:11 浏览:9859
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods(IEC60749:1996+A1:2000+A2:2001);GermanversionEN60749:1999+A1:2000+A2:2001
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法
【标准号】:DINEN60749-2002
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2002-09
【实施或试行日期】:2002-09-01
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:环境;尺寸;大气压;密度;半导体;电学测量;试验;温度;耐力;环境试验;易燃性;密封性;环境试验;机械试验;外观检查(试验);气候;热学;电气工程;气候试验;温度变化;组件;集成电路;电子设备及元件;电子工程;半导体器件;潮气
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:74P;A4
【正文语种】:德语
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法
【标准号】:DINEN60749-2002
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2002-09
【实施或试行日期】:2002-09-01
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:环境;尺寸;大气压;密度;半导体;电学测量;试验;温度;耐力;环境试验;易燃性;密封性;环境试验;机械试验;外观检查(试验);气候;热学;电气工程;气候试验;温度变化;组件;集成电路;电子设备及元件;电子工程;半导体器件;潮气
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:74P;A4
【正文语种】:德语
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